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大规模集成电路测试系统(Direct Mount) QT-9000
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Test System

QT-6000 Series分立器件高速测试系统 QT-6000

分立器件高速测试系统 QT-6000

应用范围:QT-6000测试系统适用于测量中小功率三极管、场效应管、二极管等产品及晶圆,可扩展内置电容测试(DC+CAP)、scanbox等。

特点:
· 100% FT+QA 测试UPH>40K 
· DC+CAP同一工位测试先进的高速电容测试解决方案
· DC+TRR、DC+UIS
· 最小测试电容值100fF
· 并行高速测试min 桥堆

主要技术指标:
测量精度 电流:0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5nA
电压:0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5mV
电容:0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 10fF
技术指标 最大电流 电压30A /1200V
电容测量范围:0.1-300pF  (BIAS 电压范围 0~80V)
分辨率 16 bit  ADC/DAC
波形记录 内部示波器

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