第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-8100 數模混合IC測試系統 (Cable-Mount)

適用於常規DC、AC參數測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試:電源管理類,數位消費類,馬達驅動類,音頻放大器、運算等。



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴展

型號 QT-8100
產品優勢

數模混合IC測試系統適用於常規DC、AC參數測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試:電源管理類,數位消費類,馬達驅動類,音頻放大器、運算等

主要特點 • 懸浮V/I源,四象限
• 由測試盒引出全資源,8site並測
• 數位速率100Mhz,向量深度8M
• 真並測,多路1000V/20A高壓大電流
• 18 bit 高精密採樣
• 20 個類比插槽(Max 216通道)/ 8 個數位插槽( Max 128通道)
• 多通道高精度時間測量單元,支援ns等級時間測量
• 支援RF模組擴充
• PCIE 卡,測試效率更高