第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
QT-6000 分立元件高速測試系統

QT-6000分立元件高速測試機,適用於測試中小功率二三極體、場效電晶體等產品及晶圓,可拓展內建電容測試(DC+CAP)、EAS、VC、pA模組,也可擴充外掛LCR( 超高精度電容測試)、Scanbox等,應用於FT量產測試或實驗室測試。



懸浮電源

四象限電路

高速測試

支援多種擴展

型號 QT-6000
產品優勢 • QT-6000分立元件高速測試機,具備測試精度高、測試速度快、穩定性好、可靠性高、抗干擾能力強等性能優點。
• 採用四象限電路,可以很好的保護被測元件。
• 採用懸浮電源和全對稱結構。
• 高速測試滿足UPH56K以上的分選機。
主要特點 • 高速測試,UPH>40K
• 可一拖二實現100% FT+QA平行測試
• 先進的電容高速測試方案,實現CAP+DC同工位測試
• 內建UIS測試方案,實現DC+UIS同工位測試
• LCR精準電容測試,最小測試電容值100fF






Testing standards檢測標準


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