第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
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QT-3101 UIL 雪崩测试

QT-3101 UIL 雪崩测试适用于测试 MOSFET、IGBT、二极管的雪崩参数



支持双DIE

快速充电

失效波形保存

钳压功能

型号 QT-3101 UIL
产品优势 • 支持 VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I) 测试
• 可与 QT-4100B 共用一台电脑,实现测试程序和数据统一管理
• 可设定单脉冲、多脉冲或者双 MOSFET 测试
• 输出电流IDMAX 实时测量监控和Energy读取
• 电感内阻低,ID充电快,测试时间更短
• 内置示波器
主要特点

• 支持RPF

•  晶圆测试爆珠保护

• 显示实际测量的能量(mJ)

• 支持PVDROOP、PVCOLLAPSE测试

• QT-UILM模组:ID电流输出能力提升至400A,BVDSS电压测量5KV