QT-3108SW 动态测试方案

低杂散 247/TPAK 动态测试方案:由 QT-3108SW 动态测试系统与重力式分选机组成。
支持 TO247/TPAK SiC MOS IGBT 封装器件动态参数测试。

多重安全保护
  支持过载欠压保护
  RG 1-512线性可调
  负载电感10-1100uH步进10uH
  短路保护<1us
  支持KGD测试针卡保护电路
测试需求,全方位覆盖

QT-3108SW功能齐全,支持SW、ISC 、TRR(系列参数)、
ILATCH、SCSOA、QG参数测试,选配UIS。

应用环境

测试应用板与分选机直连

开通/关断延时TDON / TDOFF

测量范围:0~2us
稳定度:±3%

上升/下降时间TR / TF

测量范围:0~2us
稳定度:±3%

反向恢复时间TRR

测量范围:0~5us
稳定度:±3%

反向恢复电荷QRR

测量范围:0~10uC;
稳定度:±3%

总栅电荷QG

测量范围:0~100uC;
稳定度:±3%

短路电流SCSOA

测量范围:0~5000 A;
稳定度:±3%

钳住电流ILATCH

测量范围:25~1000 A;
稳定度:±3%

阈值电压VTH

测量范围:0~10.0V;
稳定度:±3%



< 30nH
杂散电感
集成化测试,
解决线材分布电感引起测试结果不良