第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
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分类
QT-4100 功率器件测试系统

适用于SiC /Si MOSFET、IGBT 、二极管、三极管、可控硅、固态放电管、三端稳压、光耦等电性参数测试。提供整套成熟测试方案,全面支持DC、EAS、RGCG、热阻、SW开关特性、短路、TRR、QG等动静态参数测试。可实现多工站测试数据合并。



限压限流

高精度Rdon测试

模块化功能

多站数据合并

型号 QT-4100 功率器件测试系统
产品优势

一键校准,开批自检防呆

Low RDON最低测试0.2mR

限压限流保护

填表式制程

支持扩展EAS,LCR,热阻,SW,TRR,QG

支持PAT功能

具备SECS/GEM标准接口

主要特点 满足SiC Mos/IGBT 全参数测试流程,支持100% 在线QA

DC规格:2kV 200A,扩展8kV 2kA

AC规格:1500V 600A 短路 3000A 杂散Ls<30nH,保护<300ns

国内首家实现多工位合并数据,同时支持测试工位合并

行业内公认的标准测试解决方案