KGD(Known Good Die)测试解决方案
支持高温常温测试：DC+SW+UIL+RG&QA；提供测试机+转塔/平移分选机搭配方案；短路保护+自研探针
|
针卡保护 |
两颗并测 |
高温常温 |
数据合并 |
| 型号 | KGD测试解决方案 |
| 产品优势 |
低杂散解决方案 短路保护：短路关断时间低于300nS 定制socket，适配不同Handler方案 特殊探针材料，短路测试不烧熔不沾异物 支持工位合并 支持测试机+转塔方案，测试效率高 |
|
|
|
|
中国广东省佛山市南海国家高新区新光源产业基地光明大道16号 |
|
0757 83207313 (销售) |
|
0757 83208786 (销售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市联动科技股份有限公司 版权所有 powertechsemi.com © 2015 | 隐私政策 | Sitemap 粤ICP备17127080号-1
