3.25 ns最小脉宽 |
VS C++编程语言 |
1000 V /30 mA高压通道 |
1 ns最小时间测量 |
QT-8200是多种待测芯片的较佳测试平台
其中包括: 模拟、数字、混合芯片测试系统,每个工位提供独立的浮动资源而设计。
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25/100 MHz
时钟速率
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256 个
数字通道
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64site
并行测试
QT-8200是多种待测芯片的较佳测试平台
其中包括: 模拟、数字、混合芯片测试系统,每个工位提供独立的浮动资源而设计。
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25/100 MHz
时钟速率
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256 个
数字通道
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64site
并行测试
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4M/8M
向量存储器,支持子命令
QT-8200是多种待测芯片的较佳测试平台
其中包括: 模拟、数字、混合芯片测试系统,每个工位提供独立的浮动资源而设计。
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25/100 MHz
时钟速率
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256 个
数字通道
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64site
并行测试
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64site
并行测试
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64site
并行测试