第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类
QT-3104 QG 栅极电荷测试

QT-3104 QG满足SiC器件微小QG值测试



支持双DIE

过载欠压保护

高精度测试

支持扩展

型号 QT-3104 QG
产品优势 满足SiC器件微小QG值测试
主要特点 • 测试能力:200A/150V 150A/1000V